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@book{ Schimpl-Neimanns2005,
 title = {Bildungsverläufe im Mikrozensuspanel 1996-1999: Besuch der gymnasialen Oberstufe bis zum Abitur},
 author = {Schimpl-Neimanns, Bernhard},
 year = {2005},
 series = {ZUMA-Arbeitsbericht},
 pages = {66},
 volume = {2005/02},
 address = {Mannheim},
 publisher = {Zentrum für Umfragen, Methoden und Analysen -ZUMA-},
 urn = {https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:0168-ssoar-200600},
 abstract = {'Mit der Zusammenführung der Querschnittserhebungen des Mikrozensus 1996 bis 1999 zu einem Paneldatensatz eröffnen sich für die Forschung neue Potenziale. Es entstehen jedoch Probleme durch Panelausfälle, da nach dem Prinzip der Flächenstichprobe die aus dem Auswahlbezirk wegziehenden Haushalte und Personen nicht weiter befragt werden.Der Bericht beschreibt am Beispiel des Besuchs der gymnasialen Oberstufe bis zum Abitur die Analysemöglichkeiten von Bildungsverläufen mit dem Mikrozensuspanel. Die Vergleiche mit der amtlichen Bildungsstatistik und Analysen zur Antwortstabilität weisen auf Erhebungs- und Abgrenzungsprobleme im Mikrozensus hin. Es wird deutlich, dass Schüler bzw. Absolventen allgemein bildender Schulen und beruflicher Schulen nicht den Definitionen entsprechend unterscheidbar sind. Bei der Analyse von Bildungsübergängen werden zur Aufklärung selektiver Ausfälle Pattern-Mixture Modelle verwendet. Die Ergebnisse eines mit der beruflichen Stellung des Familienvorstands zusammenhängenden Ausfalls sprechen für die Annahme bedingt zufälliger Ausfälle ('missing at random'). Es gibt allerdings auch Hinweise auf nicht ignorierbare Ausfallmechanismen, insofern Ausfälle mit dem Status vor dem Ausfall und dem Status beim Ausfall verbunden sind. Werden unter der Annahme bedingt zufälliger Ausfälle gewichtete Analysen zur Zahl der Abiturienten durchgeführt, kann eine gute Anpassung der Ergebnisse des Mikrozensuspanels an die Bildungsstatistik erreicht werden.' (Autorenreferat)'Cross-sectional data from the German Microcensus between 1996 and 1999 have been compiled as a rotating panel dataset, providing the scientific community with a rich source of longitudinal data. The German Microcensus is based on an area sample; households that have moved are not tracked. Some non-coverage and missing data have thus to be taken into account. The paper uses Microcensus-Panel data on secondary school education to illustrate how the data can be used to analyse educational transitions (from the second stage of academic secondary schooling to completing the final secondary school leaving certificate Abitur). A comparison of the Microcensus data with data from official Education Statistics and analyses on item stability point to certain limitations in data collection and definitions used in the Microcensus. For example, it is not possible to distinguish adequately between students or graduates from general education schools and those from vocational schools. In the analysis of educational transitions, pattern-mixture models are used to examine possible selective panel attrition. Attrition correlates with the employment status of the family head, indicating that the data are missing at random. Since attrition is associated with the status at the previous wave and the current wave, however, there are also some indications of nonignorable nonresponse mechanisms, as well. Assuming 'missing at random', the estimates of Abitur graduates based on the weighted Microcensus-Panel show a good adaptation to figures from the official Education Statistics.' (author's abstract)|},
 keywords = {Bundesrepublik Deutschland; Federal Republic of Germany; microcensus; Bildungsverlauf; Gymnasium; Mikrozensus; secondary education upper level; Sekundarstufe II; course of education; secondary school (Gymnasium)}}